Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii

Andrzej Czyżewski, Bożena Kostek, Henryk Skarżyński

Uzyskaj dostęp

Zakup książkę

ISBN/ISSN:

978-83-7837-575-3

DOI:

Wydawnictwo:

Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang

Rok wydania:

2017

Liczba stron:

445

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Bibliografia:

Czyżewski, Andrzej; Kostek, Bożena; Skarżyński, Henryk. Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii. Red. . : Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang, 2017, 445 s. ISBN 978-83-7837-575-3

Bibliografia refWorks:

RT Book, Whole

SR Electronic(1)

A1 Czyżewski, A.

A1 Kostek, B.

A1 Skarżyński, H.

T1 Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii

PB Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang

YR 2017

SN 978-83-7837-575-3

Bibliografia BibTex:

@Book{ 175002, author = "Czyżewski, Andrzej and Kostek, Bożena and Skarżyński, Henryk", editor = "", title = "Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii", publisher = "Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang", year = "2017", address = "", isbn = "978-83-7837-575-3" }

Bibliografia endNote:

TY - BOOK

AU - Czyżewski, Andrzej

AU - Kostek, Bożena

AU - Skarżyński, Henryk

ED -

TI - Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii

PB - Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang

CY -

PY - 2017

SN - 978-83-7837-575-3

ER -

Netografia (standard APA):

Czyżewski, Andrzej; Kostek, Bożena; Skarżyński, Henryk. Technika komputerowa w audiologii, foniatrii i logopedii [baza danych online] : Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Andrzej Lang, 2017 [dostęp: 25 04 2024]. Dostęp w Ibuk Libra: https://libra.ibuk.pl/reader/technika-komputerowa-w-audiologii-foniatrii-i-logopedii-andrzej-czyzewski-bozena-175002.

słuch, logopedia, wady wymowy, audiologia, foniatria, audiometria

Książka prezentuje opracowania, które są wynikiem kilkuletniej współpracy naukowców z dziedziny informatyki, telekomunikacji, otolaryngologii, audiologii, psychologii, pedagogiki, logopedii i foniatrii, której partnerami byli: Katedra Inżynierii D...

Więcej