OSTATNIO PRZEGLĄDANE PRZEZ CIEBIE
WSZYSTKIE KSIĄŻKI
Wacław Szcześniak, Magdalena Ataman
Andrzej Nastaj, Krzysztof Wilczyński
Dorota Oniszczuk-Świercz
Marek Bijak-Żochowski, Andrzej Jaworski, Grzegorz Krzesiński, Tomasz Zagrajek
Marek Bijak-Żochowski, Tomasz Zagrajek, Andrzej Jaworski, Grzegorz Krzesiński
Jan Marianowski, Maciej Stachowski
Agnieszka Kurc-Lisiecka, Aleksander Lisiecki, Wojciech Juroszek, Jerzy Niagaj, Andrzej Klimpel, Lechosław Tuz
Paweł Ciężkowski, Jan Maciejewski, Adam Zawadzki
Jakub Kowalewski, Marian Kowalewski
Skrypt powstał na Wydziale Mechanicznym Technologicznym Politechniki Warszawskiej jako pomoc do przedmiotu metrologia, który jest wykładany na wszystkich kierunkach studiów inżynierskich prowadzonych na tym wydziale: Mechanika i Budowa Maszyn, Automatyzacja i Robotyzacja Procesów Produkcyjnych oraz Zarządzanie i Inżynieria Produkcji. Skrypt zawiera zestaw przykładów i zadań niezbędnych do opanowania minimum wiedzy z zakresu metrologii wielkości geometrycznych. Każdy rozdział poprzedzony jest krótkim wprowadzeniem teoretycznym, w którym podano definicje i wzory podstawowych pojęć. Ostatni rozdział dotyczy statystycznej analizy wyników pomiarów za pomocą kart kontrolnych i wskaźników zdolności procesów. Niniejsze opracowanie może być wykorzystane jako pomoc dydaktyczna na innych wydziałach mechanicznych bądź inżynierii produkcji.
Dostosuj tekst do każdego urządzenia
Twórz notatki
Rozpocznij czytanie tam, gdzie ostatnio skończyłeś
Mam już konto w internetowej bibliotece IBUK Libra
Nie mam konta w internetowej bibliotece IBUK Libra
PAMIĘTAJ!
Twój PIN do zasobów w:
Wygasa: dzisiaj
Aby zdobyć nowy PIN, skontaktuj się z Twoją biblioteką.
W ciągu kilku minut otrzymasz wiadomość na adres .
Kliknij w znajdujący się w niej przycisk, aby potwierdzić zapisanie się do newslettera i odebrać darmowego e-booka.
Zaakceptuj Regulamin, aby kontynuować korzystanie z serwisu.