Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
1
Skaningowamikroskopiatunelowania
imikroskopiasiłatomowych
MarekSzklarczyk
Technikaskaningowejmikroskopiitunelowania(ang.ScanningTunnelingMicro-
scopy,STM)orazsiostrzanatechnikaskaningowejmikroskopiisiłatomowych
(ang.AtomicForceMicroscopy,AFM)sątechnikami,którezewzględunałatwość
ichzastosowaniairodzajuzyskiwanychinformacjizyskałypopularnośćniezwykle
szybko.Odchwiliichzaproponowania(lata1983–1986)dodzisiajpowstałowiele
technikpochodnych.Obecniedodyspozycjijestokoło40pochodnychtechnik
zarównomikroskopowychjakispektroskopowych.Informacje,którezaichpo-
mocąmożnauzyskać,sązarównonaturyatomowej,jakimakroskopowej.Sąto
informacjedotyczącewłaściwościkwantowych(efekttunelowania,stojącefale
elektronowe,szerokośćpasmwzbronionych),oddziaływańmiędzyatomowych
imiędzycząsteczkowych,potencjałówpowierzchniowych,siłtarciamiędzyatomo-
wego,nanoprzewodnictwa,oddziaływańmagnetycznych,lepkości,czyteżskładu
chemicznego(spektroskopiatunelowania).Technikiteumożliwiająrównieżuzy-
skiwanieinformacjidotyczącychmorfologiiigeometriipowierzchninapoziomie
zarównoatomowym,jakimakroskopowym.
