Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
1.Skaningowamikroskopiatunelowaniaimikroskopiasiłatomowych
19
prądutunelowaniaizależnośćtęmożnaprzedstawićnastępującodlapromienia
ostrzar=0:
i
±
4
L
2
eff
(1.16)
Parametrj(r=0)jestwartościąprądutunelowaniadlaukładujednejpo-
wierzchni.
Korzystajączprzytoczonychuprzedniozależności,możnasformułowaćrów-
nanieopisująceprzybliżonąrozdzielczośćpoziomą:
j
(
r
±
0
)
L
eff
Ś
2
d+
k
r
wktórym
k
±
2
h
2
m
I
(1.17)
(1.18)
Uwzględniającwartościliczbowewrównaniach(1.13)–(1.18),możnaotrzy-
maćprostewyrażenieopisującerozdzielczośćpoziomą(wÅ)mikroskopiiSTM:
L
eff=1,70(r+s–1,5)1/2
(1.19)
1.2.TechnikaAFM
Działaniemikroskopusiłatomowych(AFM)poleganapróbkowaniuoddziały-
wańwystępującychpomiędzydwomaobiektami.Napoziomieatomowymgłów-
nymirodzajamioddziaływańsąoddziaływaniavanderWaalsa,oddziaływania
elektrostatyczneioddziaływaniachemiczne(rys.1.2).
energiapotencjalna
oddziaływaniaprzyciągające
oddziaływaniaodpychające
a±b/s6
aa/s12
F
odpi+F
s
przyci
Rys.1.2.Zależnośćmiędzyatomowychsiłodpychaniaiprzyciąganiaododległości
