Treść książki

Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
Rozpoznawalnośćdefektówstajesiętrudna,gdykilkaróżnychdefektówma
zbliżonewartościpewnejliczbyparametrówwchodzącychwskład„odcisku
palca”.Rozpoznawaniejesttymtrudniejsze,imwięcejdefektówdziała
jednocześnie.Niechodzituorozłożenierozkładusumarycznegonarozkłady
składowe,botojestczęstomożliwe,aleproblememmożebyćefektsynergizmu
dwóchdefektów.
Rys.2.3.Trójwymiarowyrozkładliczbywyładowańniezupełnychwzależnościodkątafazowego
iładunku[37]
Wpracachpoświęconychrozpoznawaniudefektów,wykorzystującychcały
warsztatpomiarowyistatystycznydotyczącyrozkładówczęstościowo-
-amplitudowychiczęstościowo-fazowychładunku,uzyskanowzasadziebardzo
dobrerozpoznawaniepojedynczychdefektów,bozprawdopodobieństwemna
poziomie90-100%.Jednakwprzypadkujednoczesnegowystępowaniakilku
defektówsytuacjasiękomplikowała.Programczasemnierozpoznawał
istniejącychdefektówlubrozpoznawałdefektynieistniejącenapoziomie
prawdopodobieństwa30-35%.
Wtejsytuacjizakrespracdotyczącychidentyfikacjidefektówrozszerzono
oanalizęparametrówczasowychimpulsówprądowychwyładowańniezupełnych.
Wpierwszymetapierozpoznawaniedefektówprowadzonowykorzystująctylko
parametryczasoweimpulsów(rozdział2.3).
Badaniakształtuiparametrówczasowychimpulsównowościąostatnich
lat[11,25].Przezdługiczasnaprzeszkodzietymbadaniomstaływymagania
aparaturowe,
którewiązałysięzposiadaniem
drogiego
oscyloskopu
nanosekundowegoorazopanowaniemtechnikipomiarównanosekundowych.
9