Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
Wykazważniejszychoznaczeńiskrótów
2D
3D
A
AACF
ACF
AFM
AFP
AnKu
AnKu*
AnS
An(P)
APSD
AR
ARIMA
ARMA
A/C
A(h)
B
c
CAA
CCD
CCM
D
DBR
DMD
dm[n]
E
EBT
EFM
ECAFM
ECSTM
ESPI
ESTM
EVSI
e
E(x)
F
FECO
FESEM
FFT
FIR
-analizawdwóchwymiarach(profil)
-analizawtrzechwymiarach(powierzchnia)
-zbiórwejściowywfiltrzemorfologicznym
-znormalizowanapowierzchniowafunkcjaautokorelacji(2D)
-funkcjaautokorelacji
-mikroskopsiłatomowych
-profilometrsiłatomowych
-eksceshistogramupochyleń
-ekscesunormowanyhistogramupochyleń
-odchylenieśredniehistogramupochyleń
-współczynnikanizotropii
-dwuwymiarowapowierzchniowawidmowagęstośćmocy
-autoregresja,procesautoregresji
-zintegrowanyprocesautoregresjioruchomejśredniej
-autoregresjaoruchomejśredniej,procesautoregresjioruchomejśredniej
-przetwornikanalogowo-cyfrowy
-powierzchniamateriałupoprzecięciunierównościnapoziomieh
-elementstrukturalnywfiltrzemorfologicznym
-poziomprzecięciaprofilulubpowierzchni
-komputerowewspomaganiedokładności
-układelementówodczytującychnatężenieświatławpunkciematrycy
-termicznyprzewodnościowymikroskopkontrastowy
-głębokośćogniskowaniaświatła
-technikastosunkupolaciemnegodojasnego
-urządzenieobudowiezcyfrowychmikroluster
-współczynnikifalkowe
-modułsprężystości
-obróbkawiązkąelektronów
-mikroskopsiłelektrostatycznych
-elektrochemicznymikroskopsiłatomowych
-elektrochemicznyskaningowymikroskoptunelowy
-interferometriaplamkowa
-elektrochemicznyskaningowymikroskoptunelowy
-wzmocnionainterferometriaskanowaniapionowego
-błądkwantyzacji
-wartośćoczekiwanazmiennejx
-siłaoddziaływaniakońcówkipomiarowejnapowierzchnię
-prążkijednakowegorzęduchromatycznego
-skaningowymikroskopelektronowyemisjipolowej
-szybkatransformataFouriera
-skończonaodpowiedźimpulsowa
