Treść książki

Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
C.Senderowski,Żelazowo-aluminioweintermetalicznesystemy…”,Warszawa2015
ISBN978-83-7798-327-0,©byBELStudio2015
Rozdział3
-
wysokorozdzielczymskaningowymmikroskopieelektronowymQuanta3D
FEGDualBeam(SEM),umożliwiającympozakompleksowąanaliząmorfolo-
giiiskładuchemicznego(EDS,WDS),równieżanalizęorientacjikrystalogra-
ficznejwmikroobszarach(EBSD)orazskaningowąanalizęprześwietleniową
(STEM)cienkichfoliizwybranychobszarówpowłok;
-analizującymskaningowymmikroskopieelektronowymPhilipsXL30lLaB6
(SEM)wyposażonymwdetektory:SE,BSE,przystawkiEDSiEBSDorazana-
lizatorobrazuSIS,pozwalającynakompleksowąanalizęstereologicznąwyróż-
nionychfazlubnieciągłościwpostaciporów;
-
dyfraktometrachrentgenowskichSeifertXRD3003TTorazRigakuUltima
IV(XRD),związkąpromieniowaniamonochromatycznegoodpowiednioCo
K
αlubCuK
α-równoległąlubpunktowąumożliwiającąmiędzyinnymianali-
fazową,analizęstopniauporządkowaniaatomowegoorazpomiarnaprężeń
zmałychobszarówbadanychpowłok;
-
spektrometrzeXRF(PrimusII-Rigaku),umożliwiającymrentgenofluerescen-
cyjną(jakościowąiilościową)analizęskładuchemicznegozutworzeniemmap
rozkładuzidentyfikowanychpierwiastkównapowierzchnibadanejpowłoki
ograniczonejśrednicąoddziaływaniawiązki-0,5mm;
-
spektrometrzeemisjioptycznejzindukcyjniesprzężonąplazmą(ICP-OESOpti-
ma7100DualView),umożliwiającymwarstwowąanalizęskładuchemicznego
naprzekrojupoprzecznym(nagłębokości)powłokipojejodparowaniu-zpo-
wierzchniokreślonejśrednicąwiązkilaserowej35pm-poprzezablacjęlasero-
zwykorzystaniemsystemuUP-266MacroNewWaveNd:YAG;
-
mikrotomografiekomputerowymNikonlMetrisXTH225ST,umożliwiającym
jakościowąiilościowąanalizęporowatościpowłok,zocenąmorfologiiindywi-
dualnychporównapodstawiewygenerowanychmap2Di3D,ozdolnościroz-
dzielczejobrazuekspozycjikomputerowej3-5pm,stanowiącejjednocześnie
dolnyprógwymiarowyoszacowaniaporów;
-pulsatorzehydraulicznymINSTRON8501umożliwiającymbadaniawytrzy-
małościadhezyjnejpowłokzarównopoprzezrozciąganiepróbki(TAT),jak
imetodątrójpodporowegozginania,wktórejdodatkowowykorzystanosta-
nowiskobadawczeCHANELAESIGNALANALYSER1kHzpołączonezpie-
zoelektrycznymsensoremszerokopasmowymtypuWDpracującymwpaśmie
częstotliwościod100Hzdo1MHzzewzmocnieniemsygnału40dBprzyczę-
stotliwościpróbkowania1kHz,przypodwójnejfiltracjipasmoprzepustowej
otrzymanegosygnałuakustycznego;
-kształtografiePG-10,umożliwiającympomiarykształtunatryskanychpowłok
orazprofilografometrzePGM-1Czgłowicąpomiarowąbezślizgacza,typu
G250BSumożliwiającąpomiarychropowatościpowłok,którewykonywanona
28