Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

Praca zbiorowa

Uzyskaj dostęp

Zakup książkę

ISBN/ISSN:

1733-1919

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Rok wydania:

2007

Liczba stron:

189

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Bibliografia:

Praca zbiorowa. Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007. Red. . : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2007, 189 s. ISSN 1733-1919

Bibliografia refWorks:

RT Book, Whole

SR Electronic(1)

A1 Praca zbiorowa

T1 Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

PB Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

YR 2007

Bibliografia BibTex:

@Book{ 206430, author = "Praca zbiorowa", editor = "", title = "Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007", publisher = "Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej", year = "2007", address = "", issn = "1733-1919" }

Bibliografia endNote:

TY - BOOK

AU - Praca zbiorowa

ED -

TI - Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

PB - Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

CY -

PY - 2007

ER -

Netografia (standard APA):

Praca zbiorowa. Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007 [baza danych online] : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2007 [dostęp: 07 05 2024]. Dostęp w Ibuk Libra: https://libra.ibuk.pl/reader/zeszyt-naukowy-budowa-maszyn-i-zarzadzanie-produkcja-72007-praca-zbiorowa-206430.

AFM, STM, nanotopografia, VSI, PSI

W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w me...

Więcej

ISBN/ISSN:

1733-1919

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Rok wydania:

2007

Liczba stron:

189

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

1. Analiza możliwości pomiarów nanotopografii6
Analysis of possibility of nanotopography measurements15
2. Wpływ podłoża na wyniki badań podatności na kruche pękanie cienkiej powłoki przeciwzużyciowej CrN16
Influence of substrates on susceptibility to brittle cracking results of the CrN thin wear-resistant coating28
3. The online method conception for measurement system analysis30
Koncepcja online w analizie systemów pomiarowych39
4. Analiza pękania koła czerpakowego koparki KWK 1500S40
Analysis of fissuring of dipper wheel of excavator KWK 1500S59
5. Ocena i propozycja modyfikacji modeli wyznaczania mikrotwardości cienkich, twardych powłok osadzonych na ostrzach skrawających ze stali szybkotnącej60
Estimation and proposal of microhardness patterns modification of thin solid films coated on high-speed steel71
6. Wykorzystanie koncepcji lean manufacturing w doskonaleniu produkcji72
Lean manufacturing to use to improve production84
7. Badania doświadczalne oraz wykorzystanie systemu ABAQUS do szacowania wartości sił krytycznych belek zimno giętych86
Experimental investigation and using the ABAQUS system for assessing value95
8. ProdBalance – narzędzie do bilansowania zdolności produkcyjnych systemu produkcyjnego96
ProdBalance – tool to help with balancing of production capacity109
9. Specjalne oprzyrządowanie do wytaczania i nagniatania powierzchni otworu stożkowego110
Special instrumentation for boring and burnishing of the conical surface of Hole120
10. The virtual coordinate measuring machine – applications122
Wirtualna współrzędnościowa maszyna pomiarowa – aplikacje129
11. Przebieg procesu jednoosiowego rozciągania w przestrzeni głównych składowych odkształcenia130
Single axial tension process in the space of principal strains components153
12. Przegląd teorii laminowanych kompozytowych płyt i powłok stosowanych w budowie zbiorników cienkościennych154
Review of different theories of laminated composite plates and shells for pressure vessels165
13. Przegląd podstawowych hipotez „lini łamanej” płyt i powłok kompozytowych166
Review of basic “broken-line” hypothesis for composite plates and shells177
14. Metodyka projektowania ergonomicznego stanowiska montażu ręcznego178
Methodology of designing the ergonomic-based manual assembly Workstation188

ZESZYTY

NAUKOWE

POLITECHNIKI

POZNAŃSKIEJ

Nr7

BudowaMaszyniZarządzanieProdukcją

2007

PAWEŁANDRAŁOJĆ

ANALIZAMOŻLIWOŚCIPOMIARÓWNANOTOPOGRAFII

Rozwójtechnologicznywymuszawmetrologiikoniecznośćpomiaruchropowatościowyso-

kościachmieszczącychsięwskalinano.Corazczęściejpotrzebnejestuzyskanienietylkoparame-

trów2D,aletakżeobrazupowierzchni.Wartykuleprzedstawionoporównaniemetodpomiaru

nanotopografiionajwiększejpionowejrozdzielczości,wktórychwykorzystujesiętakieurządze-

nia,jakmikroskopysondyskanującej,interferometryiprofilometry.

Słowakluczowe:AFM,STM,nanotopografia,VSI,PSI

1nWPROWADZENIE

Pierwszymurządzeniemskonstruowanymspecjalniedopomiarunanotopo-

grafiipowierzchnibyłzbudowanyw1982r.przezG.BinnigaiH.Rohrera

wlaboratoriumIBMwZurichutunelowymikroskopskaningowy[1].Miałon

służyćdoobserwacjiwskalinano

powierzchnitlenkówmetaliużytych

jakoizolatorwzłączuJosephsona.

Wciągunastępnychlatopracowano

wielerodzajówmikroskopówzson-

dąskanującą(SPM)(rys.1),które

miałyzazadanierozszerzeniemoż-

liwościbadaniananotopografii.

Napoczątkulat90.pojawiłysię

urządzeniaumożliwiającepomiary

zrozdzielczościąpionowązbliżoną

dorozdzielczościSPM(rys.2),dzia-

łającychzwykorzystanieminnych

Rys.1.Rodzinamikroskopówzsondą

zjawiskfizycznych-m.in.interfe-

skanującą(SPM)

rencjiświatłajakofalielektroma-

Fig.1.Thefamilyofscanningprobemicro-

gnetycznej.

scopes

Brak wyników

Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

Treść książki

Znajdź bibliotekę blisko siebie, i uzyskaj dostęp do ebooka w systemie IBUK Libra