Treść książki

Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
Przedmowadowydaniaczwartego
Dużezainteresowaniepodręcznikiemspowodowałopotrzebęopracowania
nowegowydania.Wczwartejedycjipodręcznikaszczególnąuwagęzwró-
ciłemnanowoczesnemetodyspektroskopoweiprzedstawiłemjewpięciu
rozdziałachwdużoszerszymujęciu.torozdziałydotycząceatomowej
spektroskopiiemisyjnejzplazmąsprzężonąindukcyjnie(ICP-AES)
(rozdz.2.5),spektrometriimaszjonizacjąwplazmieindukcyjniesprzężo-
nej(ICP-MS)(rozdz.6.2),spektrometriimasjonówwtórnychzanalizato-
remczasuprzelotu(TOF-SIMS)(rozdz.6.4.2),spektrofotometrycznych
układówpodwójnychipotrójnych(rozdz.3.3)orazspektrofotometriipo-
chodnej(rozdz.3.4).
Wszystkiewymienionerozdziałymająistotneznaczenieanalityczne,
ponieważprzedstawiająmetodyodznaczającesiędużączułościąinaogół
dużąselektywnością.Takiemetodystanowiąpodstawęwspółczesnejche-
miianalitycznej,tj.analizyśladowej,specjacyjnejiśrodowiskowej.
Metodyplazmowewielkimpostępemwanaliziechemicznejze
względunadużączułość,selektywnośćiuniwersalność.Obecniezalicza-
nedonajbardziejużytecznychmetodanalizypierwiastkówśladowych
m.in.wmateriałachbiologicznych,geologicznychiśrodowiskowych,po-
nieważumożliwiająanalizępróbekciekłychistałych,nieorganicznych
iorganicznych.Dopodstawowychzaletmetodzużyciemplazmyinduk-
cyjniesprzężonejnależykrótkiczasanalizy,precyzjaidokładność,niskie
granicewykrywalności,możliwośćjednoczesnejanalizywielopierwiast-
kowej.Zapomocątychmetodmożnaoznaczaćwiększośćpierwiastków
układuokresowego.Wsposóbrutynowyoznaczasię30pierwiastków
wciągukilkuminut.Metodaspektrometriimasjonówwtórnychzanaliza-
toremczasuprzelotu(TOF-SIMS)jestjednąznajważniejszychmetodba-
daniaróżnychpowierzchni.Badaniepowierzchnistanowiobecniepodsta-
wowyelementwieluzaawansowanychtechnologiiwwieludziedzinach.
Spośródwymienionychmetodszczególnąuwagę,zewzględówprak-
tycznych,zwróciłemnaspektrofotometriępochodną,którapowinnabyć
częściejstosowanawprzemysłowychlaboratoriachanalitycznych.Prze-