Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
Własnościipomiary
Rys.5.
Rys.4.
4.Współczesnyproflometr
jestinwestycjawsprzęt,wporównaniu
stykowyzmożliwością
zinwestycjąwczłowieka,którymiałbysię
pomiarunierówności
ikonturu[8]
nimzaopiekować.Urządzeniapomiarowe
5.Skaningowyinterfero-
inowetechnologiewnichzawartewymagają
metrkoherentny[14]
wiedzyizrozumieniatego,cosiędzie-
6.Mikroskopróżnicowania
jewtrakcieprocesupomiarowego,boina-
ogniskowego[16]
czejwynikpomiarubędziebardziejradosną
twórczościąniżrzetelnymodzwierciedle-
niemrzeczywistości.SłyszeliściePaństwo
sloganpowtarzanyprzezjednązfirmbom-
bardującychklientówe-mailaminapisany-
mibardzokiepskimjęzykiempolskim:Mierz
bezwiedzymetrologicznej?Jesttoklasycz-
naherezjawewspółczesnymwydaniu,lan-
sowanaprzezludzi,którzyniepotrafią(albo
niechcą)znaleźćróżnicypomiędzysłowem
Dmierzyć”aokreśleniemDkłaśćprzedmio-
tynastolepomiarowymiwciskaćprzycisk”.
Dotegodrugiegowystarczybowiemrobot
lubmanipulator,żebynienapisać–istota
człekokształtna...Akiedyś,przedpierwszą
rewolucjąprzemysłową,zaherezjępalono
nastosie.Nie,janaprawdęnienamawiam,
żebydotegowrócić.
Rys.6.
Quovadis
,metrologio?
Jeślidotejporykomuśbrakowałokonkret-
nychrozwiązańmetrologicznych,touspoka
-
jam,żewłaśnietenrozdziałpostanowiłem
impoświęcić.Trochęodniosęsiędoskalimie-
rzonychdługości,traktującmikro(anawet
nano)jakopomiarynierównościpowierzch-
ni,makrojakopomiarywymiarówikształ-
tów,amezo–jakoobszarpośredni,wktó-
rymwymiary(lubodchyłki)stająsięnatyle
małe,żewkraczająwobszartradycyjniero-
zumianyjakochropowatość.Granicepomię-
dzyskalamisąpłynne,adotegoposzczegól-
neprzyrządydotychczaskojarzonezjedną
skalącorazśmielejwkraczająwinne.Wten
sposóbnaprzykładprzyrządydopomiaru
nierównościpowierzchnipozwalająmierzyć
kształty,awspółrzędnościowemaszynypo-
miarowezaczynająstosowaćgłowicedopo-
dlaProdukcji.pl
Metale&NoweTechnologie
10
marzec-Kwiecień2021
miarówpowierzchniwskalimikro.Wszyst
-
kiewspółczesnesystemypomiarowewtych
skalachfunkcjonująwoparciuowspółrzęd-
nościowątechnikąpomiarową,czylizbiera-
jąwspółrzędnepunktówinaichpodstawie
prezentująwybranecechy.
Zacznęodmikro,którewmojejdziałalno-
ścinaukowejzawszebyłogłównymobsza-
remzainteresowań.Tutajprofilometriasty-
kowa(rys.4)masięcałyczasbardzodobrze
[3,4],szczególniewaplikacjachprzemysło-
wych,a–parafrazującklasyka–wszelkie
informacjeojejśmiercisącałkowicienie-
prawdziweiprzedwczesne.Momenttotal-
nejfascynacjitechnikamioptycznymimamy
jużzasobą,copozwoliłoznaleźćichmiejsce
iudaneaplikacje,alepokazałoteż,żepomia-
rystykowewwieluaspektachpozostanąjako
dominujące.Dlaczego?Sądobrzepoznane
zewszystkimiswoimizaletamiiwadami[5],
azdrugiejstronyfalaelektromagnetyczna,
jakąjestświatłowkontakciezpowierzch-
nią,naktórąpada,zachowujesięzupełnie
inaczejniżkońcówkastykowa,cowwie-
lusytuacjachpowodujetrudnościwporów-
naniuwynikówuzyskanychróżnymime-
todami.Dlategoprzygotowywanawłaśnie
normaISO21920dotyczącaanalizynierów-
nościnapodstawieprofilupozwalawozna-
czeniunarysunkutechnicznymnarzucić
metodępomiarową(metodęwyodrębniania
profilu)jakostykową(MP–profilmecha-
niczny)luboptyczną(EP–profilelektro-
magnetyczny).Pomiaryoptycznewymagają
takżeidealnejwręczczystościpowierzchni,
apozatymsąwrażliwenasposóbikonfigu-
racjęoświetleniapowierzchni[6,7].Wyma-
gająteżczęstolepszejizolacjiodotoczenia
zpunktuwidzeniadrgań.Alewcaleniezna-
czyto,żenależyichunikać!Wręczprzeciw-
nie,doichzaletnależąbowiemzdecydowanie
mniejszyczaspomiaru,częstowiększalicz-
badanychzpowierzchniimożliwośćbada-
niaprzedmiotów,dlaktórychdotykkońców-
