Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
Własnościipomiary
Rys.8.
Rys.7.
kipomiarowejzmieniaichgeometrię.Totak
jakzwymagającąkobietą:jeślipoświęcisię
jejodpowiedniodużoatencjiiwykażetrochę
więcejzaangażowania,toodpłacipięknem,
eksponująccałąswojąwspaniałość.
Metrologia4.0wprofilometriistyko-
wejtorozwinięcieopcjipomiarówCNC.
Stanowiskomożecechowaćsięautoma-
tycznierealizowanymiprzemieszczenia-
miwosiachliniowychiobrotowych.Wnaj-
bardziejzaawansowanejkonfiguracji,jaką
widziałem,łączniebyłoich7,aleinwencja
konstruktorówniematujakichśwyraźnych
granic.Pozaprogramowaniuwszystkich
miejscpomiarujestonrealizowanybez
udziałuoperatora.Dotyczytopomiarunie-
równościikonturu.Staramsięunikaćpopu-
larnegoterminu
Dchropowatość”,mówiąc
onierównościach,ponieważchropowatość
totylkojednazeskładowychnierównościpo-
wierzchni(opróczfalistości)iwymagaprze-
filtrowaniadanych,którepowoduje,żenie
mamyjużinformacjiopewnychzjawiskach
napowierzchni.Wartoteżpamiętać,żefil-
trowaniezwiązanejestalbozesposobem
obróbkipowierzchni,albozfunkcjonalnym
uwypukleniempewnychcharakterystycz-
nychcechpowierzchni.Iwłaśniedlategokla-
sycznypodziałnachropowatośćifalistość,
np.dlatechnikprzyrostowych,niemauza-
sadnienia,więclepiejmówićpoprostuonie-
równościach.
Podstawowąwadąpomiarówstykowych,
zwłaszczawujęciu3D[9,10],jestczasichre-
alizacji,wynikającyzkoniecznościpowolnego
przemieszczaniakońcówkistykowejpomie-
rzonejpowierzchni,cozkoleipowodujedo-
datkowąwrażliwośćnazmianytermiczne
[11].Pomiaryoptyczneuznanowpewnym
momenciedziejówzaremediumnaczaso-
chłonność,costworzyłopoledoopracowy-
Rys.9.
waniaprzyrządówopartychnaróżnychza-
7.Analizanarzędziskra-
sadachfizycznych.Ichbardziejszczegółowy
wającychnamikroskopie
różnicowaniaogniskowego
opismożnaznaleźćwliteraturze[12],tutaj
[19]
przedstawiętylkote,którychzastosowa-
8.Mikroskopróżnicowania
nieupowszechniasięnajbardziej.Zacznijmy
ogniskowego[20]
odstarego,dobregointerferometru,którego
9.Optyczno-stykowa
współrzędnościowamaszy-
jednązważniejszychkonstrukcjiopracował
napomiarowa[21]
naszrodak,urodzonywStrzelnienaKuja-
wachAlbertMichelson,zacozresztąw1907r.
otrzymałNagrodęNoblawdziedziniefizy-
ki.Obecnie,zamiastjednejdługościświa-
tła,stosujemyinterferometryświatłabiałe-
golubchociażpolichromatyczne(fragment
pasmawidzialnego).Zgodnieznormą[13]
przyrządybazującenatejzasadzieokreśla-
nesąjakoskaningoweinterferometrykohe-
rentne.Wiązkaświatłapadającegowkorelacji
związkąreferencyjnąpozwalauzyskaćwy-
raźnyobrazprążkównaokreślonejwysoko
-
ści,aefekttrójwymiarowyuzyskujemy,ska-
nująccałyzakrespomiarowywosipionowej.
Wielkośćmierzonejpowierzchniwjednym
ujęciuzależyodpowiększeniairozdzielczo
-
ści,jakąchcemyuzyskać.Sąsystemypozwa-
lającenapomiaryjużodułamkównanometra,
zakresyniektórychpozwalająmierzyćbłędy
kształtuiwymiary,mocnowchodzącwza-
kresskalimezo.Przykładowyinterferometr
tegotypuprzedstawiononarys.5.
Najbardziejchybarozpowszechnionym
waplikacjachprzemysłowychoptycznym
przyrządemdopomiarupowierzchniwska-
limikroimezojestmikroskopróżnicowania
ogniskowego[15],pokazanynarys.6.Ichoć
odpierwszychkonstrukcjitegotypuminęło
zaledwiekilkanaścielat,technologiataroz-
winęłasiętakbardzo,żewłaściwietrudnopo-
równaćobrazyuzyskiwaneprzezjejliderów
zfirmami,dlaktórychjesttojednazopcji
dodatkowych.Jaktodziała?Najprościejuj-
mując,bierzemyklasycznymikroskop,który
marzec-Kwiecień2021
dlaProdukcji.pl
Metale&NoweTechnologie
11
