Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
DOKŁADNOŚĆPOMIARÓWIDYNAMIKASYSTEMÓWPOMIAROWYCH
23
1slubkrótszymsąmożliwewyłączniewramachsystemupomiarowego.Pomiar
pośredniwymagajednoczesnegopomiarukilkuwielkościfizycznych,np.U,Idla
parametruT,wceluwyznaczeniawielkościmierzonej–rezystancjipróbki
R=f(U,I,T).Naprzykład,narys.1.10pokazanosystemdopomiarunieliniowej
rezystancjiR,zależnejodtemperaturyT,wfunkcjiczasu.Wtymsystemie
określenieRodbywasięprzezjednoczesnypomiarnapięciaUnazaciskachpróbki,
pomiarprąduIpłynącegoprzezniąorazpomiartemperaturyTpróbki.Na
podstawiebezpośrednichpomiarówtychtrzechwielkościkontrolersystemuoblicza
wartośćRwfunkcjitemperatury.
Rys.1.10.PomiarpośredniwielkościRwsystemiepomiarowym[R=f(U,I,T)]
Dynamikasystemupomiarowegozależyodnastępującychczynników:
•czasuprzetwarzaniaanalogowo-cyfrowegoprzetwornikaA/Cwsystemie
irozdzielczościprzetwornikaA/C;
•szybkościtransmisji(przepływności)magistraliinterfejsowejsystemupomia-
rowego;
•organizacjitransmitowanychkomunikatówokreślonejwprotokóletransmisyj-
nym.Komunikatysątworzoneiprzesyłanewformieramektransmisyjnych
obardzoodmiennejstrukturzeiobjętości.Ramkazawierapolaadresowe,pola
sterujące,polestartuipolekontrolipoprawnościtransmisjioróżnejdługości.
Naprzykład,wielomiankorekcyjnyCRCnapolukontrolimożebyć16-bitowy
lub32-bitowy.
•algorytmuprogramukomputerowegoprzetwarzającegokomunikatyinterfejsowe
(dane,instrukcje,adresy);
•długościmagistraliinterfejsowej;
•liczbypunktówpomiarowychobsługiwanychjednocześnieprzezsystem;
•szybkościdziałaniaurządzeniasterującegopracąsystemu,czylikontrolera
systemu(PClubmikroprocesora).
