Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
PEDAGOGICALSTUDIES
Social,educationalandartproblems
VOLUME29
Dostosuj tekst do każdego urządzenia
Twórz notatki
Rozpocznij czytanie tam, gdzie ostatnio skończyłeś
Hej, czy wciąż tam jesteś?
Zauważyliśmy Twój dłuższy brak aktywności. P.S. Dłuższy czas dostępu do publikacji zyskasz klikając przycisk PÓŁKA MYIBUK w karcie Informacje.
Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.
Autor: Praca zbiorowa
Znajdź bibliotekę blisko siebie, i uzyskaj dostęp do ebooka w systemie IBUK Libra
Cena
2.48zł