Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
WYKAZWAŻNIEJSZYCHOZNACZEŃISKRÓTÓW
STXM
Sv
Sva
Svi
Svk
Svr(h)
Svv
Str
Sx
Sy
Sz
SΔq
T
TCM
tcp
TEM
TIS
tL
to
ts
tsp
UBF
V
vdop
vk
vmax
Vmc
vmin
Vmp
Vm(p)
vo
VP
VSI
VT
Vvc
Vvv
Vv(q)
W
WF
WL
WLI
x
y
9
-transmisyjnymikroskoprentgenowski
-maksymalnagłębokośćwgłębieniapowierzchni
-zamkniętyobszarpustki
-wskaźnikutrzymaniapłynuprzezdoliny
-zredukowanagłębokośćdolin
-współczynnikobjętościpustek
-zamkniętaobjętośćpustki
-współczynnikstrukturygeometrycznejpowierzchni
-błądliniowyokreśleniapunktuwosix
-błądliniowyokreśleniapunktuwosiy
-wysokośćtopografiiwedług10punktów
-średniokwadratowepochylenienierównościpowierzchni(Sdq)
-czasjednegoobrotustołu
-termicznymikroskopkontrastowy
-czaspomiaruspirali
-transmisyjnymikroskopelektronowy
-metodycałkowitegozintegrowanegorozproszenia(integracyjne)
-długośćkorelacji
-czaspomiaruobwodudlapróbkowaniaspiralnego
-czaspomiarujednegoodcinkaelementarnegowpróbkowaniuspiralnym
-współczynnikpolapowierzchninośnejchropowatości3D
-głowicaoptycznapracującanazasadzieautoogniskowania
-parametryobjętościowe(rodzina)
-prędkośćdopuszczalnadlapróbkowaniaspiralnego
-prędkośćliniowakońcówkipomiarowej
-maksymalnaprędkośćkońcówkidlapróbkowaniaspiralnego
-objętośćmateriałurdzenia
-minimalnaprędkośćkońcówkidlapróbkowaniaspiralnego
-objętośćmateriałuwierzchołków
-objętośćmateriałunaokreślonympoziomienajednostkępowierzchni
-prędkośćobwodowakońcówkipomiarowej
-napięcieprzykładanedopiezonapędupionowegowSTM
-interferometriaskanowaniapionowego
-napięcietunelowewSTM
-objętośćpustekrdzenia
-objętośćpustekdolin
-objętośćpusteknaokreślonympoziomienajednostkępowierzchni
-profilfalistości
-wskaźnikgęstościpróbkowania
-wskaźnikdługościścieżek
-interferometrwykorzystującyświatłobiałe
-kierunektopograficznyrównoległydoosigłowicypomiarowej
-kierunektopograficznyprzesuwupoprzecznego
