Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni

Michał Wieczorkowski

Uzyskaj dostęp

Zakup książkę

ISBN/ISSN:

978-83-7143-806-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Rok wydania:

2009

Liczba stron:

343

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Bibliografia:

Wieczorkowski, Michał. Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni. Red. . Poznań: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009, 343 s. ISBN 978-83-7143-806-6

Bibliografia refWorks:

RT Book, Whole

SR Electronic(1)

A1 Wieczorkowski, M.

T1 Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni

PB Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

PP Poznań

YR 2009

SN 978-83-7143-806-6

Bibliografia BibTex:

@Book{ 100277, author = "Wieczorkowski, Michał", editor = "", title = "Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni", publisher = "Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej", year = "2009", address = "Poznań", isbn = "978-83-7143-806-6" }

Bibliografia endNote:

TY - BOOK

AU - Wieczorkowski, Michał

ED -

TI - Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni

PB - Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

CY - Poznań

PY - 2009

SN - 978-83-7143-806-6

ER -

Netografia (standard APA):

Wieczorkowski, Michał. Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni [baza danych online] Poznań: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009 [dostęp: 03 05 2024]. Dostęp w Ibuk Libra: https://libra.ibuk.pl/reader/wykorzystanie-analizy-topograficznej-w-pomiarach-nierownosci-michal-wieczorkowski-100277.

metrologia, topograficzna analiza powierzchni, pomiary nierówności powierzchni

Z przedstawionego w niniejszej pracy przeglądu zagadnień związanych z topograficzną analizą powierzchni wynika, jak ważny i powszechny jest to problem. Uwzględniając ponadto, że ze wszystkich dziedzin metrologii wielkości geometrycznych pomiary ni...

Więcej

ISBN/ISSN:

978-83-7143-806-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Rok wydania:

2009

Liczba stron:

343

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Streszczenie5
Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów6
Przedmowa12
1. Wprowadzenie16
2. Techniki stosowane w pomiarach nierówności22
2.1. Pomiary stykowe22
2.2. Pomiary optyczne35
2.2.1. Uwagi wstępne35
2.2.2. Metody rozpraszania światła36
2.2.3. Stylus optyczny42
2.2.4. Metody interferometryczne48
2.2.5. Metody konfokalne59
2.2.6. Inne metody optyczne63
2.2.7. Optyczne techniki analizy nierówności – podsumowanie69
2.3. Mikroskopia skaningowa71
2.4. Inne metody pomiaru nierówności81
2.5. Uwagi końcowe87
3. Topograficzna ocena powierzchni92
3.1. Geometryczna struktura powierzchni92
3.2. Odwzorowanie nierówności w analizie profilometrycznej100
3.3. Graficzne przedstawianie nierówności powierzchni110
4. Parametryczna ocena chropowatości powierzchni120
4.1. Analiza profilu120
4.2. Element odniesienia w pomiarach topografii i analiza fraktalna126
4.3. Obliczanie parametrów przestrzennych135
4.4. Filtracja w pomiarach topografii powierzchni150
4.5. Modelowanie nierówności powierzchni171
5. Próbkowanie w profilometrycznych pomiarach chropowatości powierzchni181
5.1. Podstawy teoretyczne próbkowania geometrycznego181
5.2. Konstrukcje siatek geometrycznych i wnioski z ich zastosowania185
5.3. Wprowadzenie do próbkowania spiralnego187
5.4. Teoretyczne podstawy próbkowania po spirali191
5.5. Zastosowanie spirali w badaniach profilometrycznych198
6. Wykorzystanie topograficznej analizy powierzchni207
6.1. Uwagi wstępne207
6.2. Zastosowanie analizy 3D w badaniu procesów obróbkowych208
6.3. Zastosowanie analizy morfologicznej w mechanice kontaktu219
6.4. Wykorzystanie topografii w badaniach materiałów i przepływu230
6.5. Analiza 3D w optyce i mikroelektronice234
6.6. Morfologiczna analiza powierzchni w naukach geograficznych238
6.7. Zastosowanie topografii w biologii, medycynie i chemii244
6.8. Inne aplikacje topograficznej analizy powierzchni255
7. Podsumowanie261
Wykaz literatury264
Summary342