Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Janusz Piotrowski, Krystyna Kostyrko

Uzyskaj dostęp

Zakup książkę

ISBN/ISSN:

978-83-01-17051-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Naukowe PWN

Rok wydania:

2012

Liczba stron:

584

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Bibliografia:

Piotrowski, Janusz; Kostyrko, Krystyna. Wzorcowanie aparatury pomiarowej. Red. . Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2012, 584 s. ISBN 978-83-01-17051-6

Bibliografia refWorks:

RT Book, Whole

SR Electronic(1)

A1 Piotrowski, J.

A1 Kostyrko, K.

T1 Wzorcowanie aparatury pomiarowej

PB Wydawnictwo Naukowe PWN

PP Warszawa

YR 2012

SN 978-83-01-17051-6

Bibliografia BibTex:

@Book{ 43849, author = "Piotrowski, Janusz and Kostyrko, Krystyna", editor = "", title = "Wzorcowanie aparatury pomiarowej", publisher = "Wydawnictwo Naukowe PWN", year = "2012", address = "Warszawa", isbn = "978-83-01-17051-6" }

Bibliografia endNote:

TY - BOOK

AU - Piotrowski, Janusz

AU - Kostyrko, Krystyna

ED -

TI - Wzorcowanie aparatury pomiarowej

PB - Wydawnictwo Naukowe PWN

CY - Warszawa

PY - 2012

SN - 978-83-01-17051-6

ER -

Netografia (standard APA):

Piotrowski, Janusz; Kostyrko, Krystyna. Wzorcowanie aparatury pomiarowej [baza danych online] Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2012 [dostęp: 25 07 2024]. Dostęp w Ibuk Libra: https://libra.ibuk.pl/reader/wzorcowanie-aparatury-pomiarowej-janusz-piotrowski-krystyna-43849.

metrologia, wzorcowanie aparatury pomiarowej, aparatura pomiarowa, narzędzia pomiarowe, laboratorium akredytowane

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jedn...

Więcej

ISBN/ISSN:

978-83-01-17051-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Naukowe PWN

Rok wydania:

2012

Liczba stron:

584

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Wstęp10
1. Wprowadzenie14
1.1. Procedury metrologiczne14
1.2. Praktyczne znaczenie kalibracji21
1.3. Matematyczne podstawy kalibracji24
Literatura27
2. Jednostki miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar28
2.1. Kreowanie wzorców jednostek podstawowych SI – stan obecny28
2.2. Współpraca międzynarodowa nad zachowaniem jednolitości miar pod auspicjami Konwencji Metrycznej35
2.3. Prace nad dokumentami podstawowymi dla rozwoju metrologii koordynowane przez Międzynarodowe Biuro Miar BIPM oraz komitet JCGM38
2.4. Prace nad utworzeniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI koordynowane przez Międzynarodowy Komitet Miar CIPM40
2.5. Klasyfikacja etalonów i wzorce45
2.6. Realizacja etalonów jednostek podstawowych SI47
2.7. Międzynarodowa współpraca metrologów koordynowana przez CIPM – w ramach porozumienia MRA o wzajemnym uznawaniu wzorców i świadectw, wyników kalibracji i pomiarów (CIPM-MRA)83
Literatura86
3. Procedury zapewnienia jedności miar93
3.1 Układy sprawdzań93
3.2. Interpretacja układów sprawdzań98
3.3. Optymalizacja układów sprawdzań104
3.4. Warunki spójności pomiarowej pomiarów108
3.5. Przykłady układów sprawdzań112
Literatura120
4. Podstawowe pojęcia metrologii123
4.1. Model matematyczny przyrządu123
4.2. Matematyczny model błędów127
4.3. Niedokładność wzorców i przyrządów131
4.4. Defi nicje błędów137
4.5. Analiza wariancji147
Literatura152
5. Procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych153
5.1. Wprowadzenie153
5.2. Procedury analityczne157
5.3. Procedury kalibracji161
5.4. Dobór parametrów procedur wzorcowania168
5.5. Klasyfi kacja procedur kalibracji173
5.6. Wzorcowanie rotametru – przykład180
5.7. Standardowa metoda dodawania195
Literatura200
6. Niepewność wyników pomiarów i procedury wyznaczania niepewności202
6.1. Wprowadzenie202
6.2. Ujednolicony system wyrażania niepewności205
6.3. Wyrażanie niepewności w szczególnych przypadkach215
6.4. Przykłady wyrażania i oceny niedokładności218
Literatura231
7. Wstępne opracowanie wyników kalibracji234
7.1. Wygładzanie sygnałów235
7.2. Cenzurowanie wyników pomiarów253
7.3. Uzupełnianie, normalizacja, standaryzacja i monodystansowanie wyników wzorcowania261
Literatura268
8. Procedury estymacji charakterystyk272
8.1. Liniowa charakterystyka przyrządu i stała wariancja błędów273
8.2. Liniowa charakterystyka przyrządu, odchylenie standardowe błędów proporcjonalne do x279
8.3. Liniowa charakterystyka przyrządu, odchylenie standardowe błędów zmienne285
8.4. Wzorzec obarczony błędem292
8.5. Procedury estymacji charakterystyk nieliniowych297
8.6. Metoda regresji nieliniowej304
8.7. Zalecenia praktyczne308
Literatura311
9. Procedury estymacji odporne na błędy grube313
9.1. Procedury cenzurowania przy estymacji charakterystyki313
9.2. Estymacja odporna315
9.2. Estymacja medianowa320
Literatura328
10. Procedury estymacji charakterystyk wielowymiarowych329
10.1. Wprowadzenie329
10.2. Analiza planów eksperymentu kalibracji332
10.3. Złożone metody regresji343
Literatura350
11. Komputeryzacja procedur kalibracji i obsługi laboratorium353
11.1. Kalibratory i przykłady stanowisk do wzorcowania354
11.2. Komputerowa obsługa laboratorium363
11.3. Przykład organizacji systemu komputerowej obsługi akredytowanego laboratorium wzorcującego374
Literatura396
12. Sprawdzanie (walidacja) metod badania i wzorcowania398
12.1. Ogólne zasady walidacji398
12.2. Badania równorzędności metod pomiarowych402
12.3. Badania odporności metod badawczych na czynniki zewnętrzne405
12.4. Walidacja metod analitycznych409
12.5. Wewnętrzna kontrola jakości w laboratorium analitycznym420
Literatura431
13. Badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania435
13.1. Podstawowe pojęcia435
13.2. Przygotowanie programu testowania metody pomiarowej437
13.3. Estymacja precyzji metody pomiarowej w warunkach odtwarzalności443
13.4. Przykład estymacji precyzji metody pomiarowej w chemii analitycznej457
13.5. Badanie biegłości461
Literatura476
14. Laboratoria akredytowane, prawna kontrola metrologiczna i ocena zgodności479
14.1. System prawnej kontroli metrologicznej oraz system oceny zgodności479
14.2. System oceny zgodności przyrządów pomiarowych z wymaganiami Dyrektyw UE483
14.3. Laboratoria wzorcujące i ich szczególne cechy496
14.4. Zasady działania jednostek akredytujących laboratoria500
14.5. Międzynarodowy nadzór i współpraca laboratoriów wzorcujących504
14.6. Proces akredytacji laboratorium wzorcującego508
14.7. Zakresy akredytacji i kompetencje techniczne laboratoriów wzorcujących511
14.8. Systemy zarządzania (systemy jakości) laboratoriów wzorcujących523
Literatura528
Załącznik: Przykład Księgi Jakości Laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005534
Objaśnienia i uwagi wstępne535
0. Prezentacja KJ540
1. Defi nicje541
2. Opis Laboratorium544
3. Zarządzanie Laboratorium546
4. System Zarządzania Jakością550
5. Pomieszczenia i środowisko555
6. Sprzęt badawczy i pomiarowy557
7. Metody pracy laboratoryjnej560
8. Tryb realizacji zamówień562
9. Rozpatrywanie reklamacji564
10. Prowadzenie i nadzorowanie dokumentacji566
Procedura 01. Procedura zakupu i wprowadzania do eksploatacji sprzętu badawczego i pomiarowego567
Procedura 02. Procedura gospodarki sprzętem badawczym i pomiarowym568
Procedura W1. Procedura wzorcowania569
Słownik skrótów572
Skorowidz578

2.Jednostkimiar,wzorcepomiaroweibadaniejednolitościmiar

pozwoliłonazmniejszenieniepewnościodtwarzaniametrado10–8,jednakże

lampataniezapewniaładostateczniedużegonatężeniaświatła,spójnegopro-

mieniowania,niedawałateżmożliwościwydzieleniawąskiegopasmapromienio-

waniaaniteżaktywnegooddziaływanianaczęstotliwośćfaliświetlnej.

Temożliwościpowstaływmomenciezastosowaniawinterferometrachźródeł

laserowych.PozwoliłotonaustanowienienaXVIIGeneralnejKonferencjiMiar

w1983r.nowejdeﬁnicjimetra:Hmetrjesttodługośćdrogiprzebytejprzezświa-

tłowpróżniwczasie1/299792458sekundy”

XVIIGeneralnaKonferencjaMiarw1983r.zarekomendowaławówczastak-

żekilkainnychźródełpromieniowaniajakomożliwychdowykorzystaniaprzy

realizacjiwzorcametra,np.:

Długośćfalił

HeNelaserahelowo-neonowegostabilizowanegojodemwynosząca

632,99139822nm,zniepewnościąwzględnąstandardowąU=2,5·10–11.

WedługzaleceniaCIPMz1983r.,realizującjednostkępodstawową:metr,

możnawyjśćztrzechzależności,wyznaczając:

1)długośćdrogilprzebywanejwpróżniprzezpłaskąfalęelektromagnetycz-

nąwczasiet;długośćluzyskujesięzpomiaruczasut,stosujączależnośćl=ct,

gdziewartośćprędkościświatławpróżnic=299792458m/s;

2)długośćpłaskiejfalielektromagnetycznejłoczęstotliwościf;długość

faliuzyskujesięzpomiaruczęstotliwościfwykorzystujączależnośćł=c/f,gdy

c=299792458m/s;

3)metr,wykorzystującpromieniowaniezlistydługościfalłlubczęstotliwo-

ścifzalecanejprzezCIPM(razemzcharakterystykami)dostosowaniaprzyre-

alizacjideﬁnicjijednostkidługości.

Doniedawnajakowzorcepaństwowedługościstosowanebyłyinterferometry

laserowe,stabilizowanezniepewnościąsięgającą10–9,anawet10–10[28].Najlep-

sząwartośćwzględnejstabilnościlaserówodniesienia,znajdującychsięwBIPM,

oszacowanopodczasrealizacjiporównańmiędzynarodowychw1995r.[23]iwy-

nosiłaona4,6·10–13wczasie100s.

Narysunku2.6aprzedstawionoschematinterferometrudziałającegowukła-

dzieMichelsonazeźródłemlaserowym.Źródłoskładasięzwnękilaserowej

utworzonejzdwóchwklęsłychzwierciadeł1i2montowanychnapiezoelektrycz-

nychprzetwornikachceramicznychwcelustworzeniamożliwościmodulacjiczę-

stotliwościidostrajaniajejdokalibrowanejdługościl.Wewnęceznajdujesię

ruralaserowahelowo-neonowa3,komórkawzmacniającaorazkomórkaabsorp-

cyjna(stabilizująca)4wypełnionametanemlubparamiizotopujodu127.Zada-

niemkomórkiabsorbcyjnej4jestwydzieleniebardzowąskiegopasmazakresu

promieniowaniawskutekpowstaniafalistojącejwrezonatorzelasera.

Emitowanaprzezlaser3wiązkapromieniowaniamonochromatycznegotra-

ﬁa,przechodzącprzezotwórwlustrze2,napłytkępółprzepuszczalną5spełniają-

cąfunkcjęrozdzielaczawiązki.Częśćwiązkipromieniowaniaodbitaodpłytki5

Brak wyników

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Treść książki

Znajdź bibliotekę blisko siebie, i uzyskaj dostęp do ebooka w systemie IBUK Libra