Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
RYC.1.1.10.Emisjafluorescencjipierwotnejwzakresiezielenikomórekparenchymykłącza
ConvIllIriIsp.Fotografia(A)wykonanazostaławtypowymmikroskopiefluorescencyjnym
szerokiegopola(WF)itensamfragmenttkanki(B)zarejestrowanywlaserowymmikrosko-
pieskanującym(konfokalnym;LSCM).Wprzypadkumikroskopukonfokalnegouwagęzwraca
doskonałykontrastmiędzyelementamikomórkowymiitłem,którypowstajedziękiodcięciu
światłafluorescencyjnegozobszarówpozostającychpozapłaszczyznąogniskowąobiektywu.
Skala:50Pm.
niedoskonałościoptykimikroskopuorazcha-
podzielonynawielesegmentów(32segmen-
rakterupreparatu.Dziękitemuobrazysąnieco
tywAiryscanfirmyCarlZeiss).Znalezienie
większejrozdzielczościprzestrzennej.Pro-
takiegomiejscanaobraziedyfrakcyjnympo-
ceszwanydekonwolucjąopierasięnama-
zwalanawyeliminowaniepozostałych,mniej-
tematycznym
procesowaniu
otrzymywa-
szychwartościintensywnościwokółwspo-
nychobrazów,eliminacjitła,przyzałożeniu
mnianegomaksimumiprzedstawienieobrazu
właściwychdlamikroskopuparametrów
przedmiotuorozdzielczościokoło1,7×więk-
wizualizacji,takichjakdługośćfaliświatła
szejniżdefiniowanawspomnianymwcześniej
wzbudzającegolemitowanego,
częstotliwości
wzoremdlaρ
X.
próbkowaniaobiektuorazaperturynume-
Zwiększenierozdzielczości,szczególnie
rycznej(NA)obiektywu.Optymalnymroz-
osiowej,osiągasiętakżewoparciuoefekt
wiązaniemdlapoprawnegoprzeprowadzenia
całkowitegowewnętrznegoodbicianagra-
dekonwolucjijesteksperymentalnewyznacze-
nicydwóchośrodków-szkłaiwody,jakto
niefunkcjipunktowegorozkładuintensyw-
mamiejscewtechnicemikroskopowejTIRF
nościsygnałufluorescencyjnego(Ing.point
(Ing.totalinternalreflectionfluorescence
spreadfunction;PSF)napodstawieobrazów
microscopy).Dziękioświetlaniuprzedmiotu
obiektóworozmiarachponiżejzdolności
wiązkąwzbudzającąpodkątemkrytycznym
rozdzielczejmikroskopu(<200nm).
możnawymusićfluorescencjęwyłącznietych
Innymsposobempoprawyprzestrzennej
elementów,któreznajdująsięwobszarach
zdolnościrozdzielczejmikroskopiikonfokal-
graniczącychzpodłożem(szkłem),naktórym
nejjestpoznaniepołożeniamaksimuminten-
umieszczonyjestobiekt(np.komórka).Mniej
sywnościwspomnianegoPSFprzezdetektor
więcejdo~100nmwgłąbpreparatu,następuje
10
Podstawowetechnikibadawcze
