Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
2.2.ZasadadziałaniatechnikiLA-ICP-MS
19
wymagającychzzałożeniabardzowysokiejprecyzji.
Wprzeciwieństwiedokwadrupolowychspektrometrów
mas,urządzeniawyposażonewanalizatoryczasuprzelo-
tumogąuzyskaćwidmowszystkichjonówwbardzokrót-
kimczasie,zwyklerzędukilkudziesięciups[1,4,5].
Następniejonyrozdzielanewanalizatorzemassą
wykrywaneprzezdetektor,którygenerujemierzalnysyg-
nałzpadającychnaniegojonów.Wzależnościodtypu
detektoradokonywanyjestbezpośrednipomiarładun-
kównadchodzącychjonówlubzwiększanajestinten-
sywnośćwykrywanegosygnału.Najpopularniejszym
detektoremużywanymwtechniceICP-MSjestpowie-
laczelektronów.Dodatnionaładowanejonyuderzają
wpierwsządynodędetektora,utrzymywanąpodwyso-
kimujemnymnapięciem,powodującemisjęelektronów
zjejpowierzchni.Tezkoleiuderzająwkolejnądynodę,
uwalniającjeszczewięcejelektronów.Proceszwanyemi-
sjąwtórnągwarantujewzmocnieniesygnałunatyle,aby
stałosięmożliwewygenerowaniemierzalnegoimpulsu
zuderzeniapojedynczegojonunadetektor.Większość
detektorówmożepracowaćzarównowtrybieimpulso-
wym(cyfrowym),jakianalogowym.Dochodziwówczas
doautomatycznegoprzełączaniasięztrybuimpulsowe-
gonatrybanalogowy,gdynatężeniesygnałuprzekra-
czaokreślonypróg,umożliwiającrozszerzenieliniowego
zakresudynamicznegodetektoradookoło8-12rzędów
wielkości.Końcowywynikanalizyzapomocątechniki
LA-ICP-MSpodawanyjestdlaposzczególnychizotopów
pierwiastka,którezostałyuprzedniowybraneprzezużyt-
kownika.Przypodejmowaniudecyzjiorodzajuizotopu,
względemktóregosygnałanalitycznybędzieprzeliczany
nastężenieokreślonegopierwiastka,należykierowaćsię
ewentualnymudziałeminterferencjidladanegostosun-
kumlzorazwzględnąintensywnościąsygnału[1,3-5].
WtechniceLA-ICP-MSzasadniczymźródłeminfor-
macjianalitycznejsąjonypowstającewplazmie.Podsta-
wąanalizocharakterzejakościowymwzakresiewidma
mas5-260mlzjestocenasygnaługenerowanegoprzy
określonymstosunkumasydoładunku(mlz),natomiast
analizilościowych-natężeniewiązkijonów.Wykorzy-
stującspektrometrięmaszjonizacjąICP,możnazbadać
większośćpierwiastkówukładuokresowegozwyjątkiem
gazówszlachetnych,pierwiastkówozbytkrótkimczasie
półtrwaniaorazatomówtj.H,O,NczyF.Narysunku2.1
RYS02010SchematukładuLA-ICP-MS