Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
TECHNIKIUŻYWANEWHISTOLOGII
3
ratuhistologicznego,iztegowzględujest
rymelektronymogąprzenikać(transmi-
pojęciemważniejszymniżpowiększenie
tować)przezbadanestrukturytkankowe,
geometryczne.
nazywasiętransmisyjnymmikroskopem
Zdolnośćrozdzielczą(R)możnaobli-
elektronowym(TEM),ataki,wktórym
czyćiwyrazićwjednostkachdługości,sto-
elektronyodbijająsięodpowierzchni
sującwzór:
struktury
,apotymsąskanowane,nazywa
R=
nsinα
1
2
λ
sięskanującymmikroskopemelektrono-
wym(SEM).Narycinie1.1przedstawiono
biegelektronówwTEM.Elektronyemito-
wanepodnapięciem20kV–2MVprzez
gdzie:
λ
–długośćfaliświatłaużytegodooświetlenia
katodęmikroskopubiegnąwpróżniwzdłuż
preparatu(średniawartość
λ
dlaświatławidzial-
układówelektromagnesówbędącychodpo-
negowynosiokoło600nm),
wiednikamikondensora,obiektywuioku-
1/
obiektymniejszeniżtawartośćświatłoprzeni-
2
λ
–wprowadzonotęwartość,ponieważprzez
larumikroskopuświetlnego.Badanyobiekt
umieszczanyjestmiędzyelektromagne-
ka,nieulegajączmianom,azatemniedajetakże
samikondensoraiobiektywu.Ponieważ
elektronywpoluelektromagnetycznym
obrazu,
mającharakterfalowy
,mogąpodobnie
n–współczynnikzałamaniaświatła,
o
–połowakątarozwarciasystemuoptycznego,
jakświatłoulegaćodkształceniomidawać
tj.kątamiędzykrańcowymipromieniamiświatła
wchodzącegodoobiektywu.
powiększonyobrazbadanychstruktur.
Obraztakimożnaoglądaćwpłaszczyźnie
ogniskowejmikroskopu,wktórejsięznaj-
Iloczynnsin
o
nazywasięaperturąnu-
dujeekranfluoryzujący(elektronyniesą
meryczną,którejwartośćjestpodana
rejestrowaneprzezoko).Możnatakżetaki
naobiektywie(rycina1.1).Najczęstszym
obrazfotografowaćiuzyskiwaćelektro-
inajprostszymsposobempoprawieniazdol-
nogramy(E/M).TEMpozwalazatemna
nościrozdzielczejmikroskopujestzwięk-
badaniestrukturygłębikomórekitkanek.
szenie
wartości
apertury
numerycznej
WSEMstrumieńelektronówdocierado
przezużycieobiektywuimmersyjnego(po-
badanegoobiektuumieszczonegowdolnej
większenia90–100razy)izastąpieniepo-
częścikolumnymikroskopu,odbijasięod
wietrzawprzestrzenipreparat–obiektyw
powierzchniobiektuorazwybijaelektrony
ciecząodużymwspółczynnikuzałamania
wtórne,aniewielkiepolatejpowierzchni
światła(n=1,5–1,6).Zdolnośćrozdziel-
sąskanowane.Powiększonyobrazodwzo-
czamikroskopuświetlnegodlaobiektywu
rowanejpowierzchniobiektutkankowego
immersyjnegowynosiokoło0,15Hm,adla
otrzymujesięnaekranietelewizyjnym.
obiektywupowiększającego10razyponad
SEMpozwalazatemnabadaniepowierzch-
1Hm.
nistrukturtkankowych.Ponieważdługość
falielektronówwpoluelektromagnetycz-
nymjestmała(np.0,005nmprzynapięciu
Mikroskopelektronowy
80kV),uzyskiwanazdolnośćrozdzielcza
jestwielokrotnielepszaniżdlamikrosko-
Wceluotrzymaniapowiększonegoobrazu
pówświetlnych.Zdolnośćrozdzielczadla
wmikroskopieelektronowymużywasię
TEMwynosi0,2–1,0nm,adlaSEM–oko-
strumieniaelektronów.Mikroskop,wktó-
ło10nm.
